загляните на купон-скидку или справочники: окна kbe, окна veka, окна rehau, остекление балкона, остекление лоджии, изготовление окон, монтаж окон, остекление, производство окон, металлопластиковые окна, окна пвх, пластиковые окна, установка окон, стеклопакеты и евроокна.

ВСЁ О СТРОИТЕЛЬСТВЕ, ЖЕЛЕЗОБЕТОНЕ, БЕТОНЕ, АРХИТЕКТУРЕ И НЕ ТОЛЬКО...:
ОПРЕДЕЛЕНИЯ:

АСФАЛЬТИРОВАНИЕ, устройство асфальтобетонных покрытий на автомобильных дорогах, улицах, аэродромах и т. п. путём укладки и уплотнения асфальтобетонной смеси по предварительно подготовленному основанию. В зависимости от назначения покрытия асфальтобетонную смесь (асфальтобетон) укладывают в один или два слоя на основание из щебня, гравия (нежёсткое основание) или бетона (жёсткое основание). Нижний слой толщиной 4-5 см устраивают из крупно- или среднезерни-стой смеси с остаточной пористостью 5-10% ; верхний слой толщиной 3-4 см-из средне- или мелкозернистой смеси (остаточная пористость 3-5%). При тяжёлых нагрузках и интенсивном движении транспорта покрытия устраивают 3-4-слойными общей толщиной 12-15 см. АСФАЛЬТИРОВАНИЕ начинается с очистки основания от пыли и грязи механич. дорожными щётками и поливомоечными машинами, исправления неровностей основания, обработки его поверхности жидким битумом или битумной эмульсией. Асфальтобетонная смесь приготовляется в асфальтобетоно-смесителях на стационарных или полустационарных заводах (установках), доставляется на место автомобилями-самосвалами и загружается в приёмный бункер асфалътобетоноукладчика, к-рый укладывает, разравнивает и предварительно уплотняет смесь. Окончат. уплотнение осуществляется катками дорожными. .
КОММУНАЛЬНОЕ СТРОИТЕЛЬСТВО, отрасль строительства, занятая сооружением объектов, связанных с обслуживанием жителей городов, посёлков городского типа, районных сельских центров и населённых пунктов сельской местности. В числе этих объектов: системы водоснабжения и канализации с очистными сооружениями и сетями; сооружения городского электрического транспорта с путевым, энергетическим хозяйством, депо и ремонтными предприятиями; сети газоснабжения и теплоснабжения с распределительными пунктами, районными и квартальными котельными; электрические сети и устройства напряжением ниже 35 кв; гостиницы; городские гидротехнические сооружения; объекты внешнего благоустройства населённых мест, озеленения, дороги, мосты, путепроводы, ливнестоки; предприятия санитарной очистки, мусороперерабатывающие и др. Планомерное развитие КОММУНАЛЬНОГО СТРОИТЕЛЬСТВА в СССР началось ещё в 1-й пятилетке и осуществлялось нарастающими темпами до начала Великой Отечеств, войны 1941-45. В годы 4-й пятилетки (1946-50) проводились работы по восстановлению объектов коммунального назначения, разрушенных во время нем.-фаш. оккупации. В последующие годы КОММУНАЛЬНОЕ СТРОИТЕЛЬСТВО велось высокими темпами в связи с бурным развитием промышленности, культуры, увеличением численности городов и посёлков городского типа .
ГРАДОСТРОИТЕЛЬСТВО, теория и практика планировки и застройки городов (см. Город). ГРАДОСТРОИТЕЛЬСТВО определяют социальный строй, уровень развития производственных сил, науки и культуры, природно-климатичие условия и национальные особенности страны. ГРАДОСТРОИТЕЛЬСТВО охватывает сложный комплекс социально-экономических, строительно-технических, архитектурно-художественных, а также санитарно-гигиенических проблем. Общим для ГРАДОСТРОИТЕЛЬСТВО досоциалистических формаций является большее или меньшее влияние на него частной собственности на землю и недвижимое имущество..
ЗЕЛЁНОЕ СТРОИТЕЛЬСТВО, составная часть современного градостроительства. Городские парки, сады, скверы, бульвары, загородные парки (лесопарки, лугопарки, гидропарки, исторические, этнографические, мемориальные), национальные парки, народные парки, тесно связанные с планировочной структурой города, являются необходимым элементом общегородского ландшафта. Они способствуют образованию благоприятной в санитарно-гигиеническом отношении среды, частично определяют функциональную организацию городских территорий, служат местами массового отдыха трудящихся и содействуют художественной выразительности архитектурых ансамблей. При разработке проектов садов и парков учитывают динамику роста деревьев, состояние и расцветку их крон в зависимости от времени года.

Главная страница
Поиск по сайту
Оглавление страниц
Объяснение слов: словарь, справочник, информация. Строительство, экономика, промышленность - все сферы жизни: от А до Г, от Г до П и от П до Я

олее чем на 1%; поэтому величиной h1 пренебрегают и отсчёт производят только по уровню жидкости в трубке. Для исключения погрешности шкала изготовляется с делениями, равными не 1 мм, а меньше (0,9 мм). Диапазон измерений U-образ-ных Д. до 93 кн/м2(700 мм рт. ст.) при давлении среды до 15 Мн/м2(150 кгс/см2). Точность отсчёта в двух трубках ±1 мм.

Поплавковый Д. по принципу действия аналогичен однотрубному Д. с сосудом и вертикальной трубкой, только для измерения служит поплавок, передающий изменение уровня жидкости в сосуде на стрелку прибора. Диапазон измерения перепадов давления от 0 до 133 кн/м2(от 0 до 1000 мм рт. ст.), при давлении среды до 16 Мн/м2(160 кгс/см2). Осн. приведённая погрешность ± 1,5-2% .

Кольцевой Д., или "кольцевые весы", имеет чувствит. элемент в виде полого кольца с перегородкой (рис. 3). В нижней части кольца, заполненного жидкостью (вода, масло, ртуть), укреплён компенсационный груз. При p1 = p% уровень жидкости в обеих частях кольца одинаков, а центр тяжести груза находится на вертикальной оси, проходящей через центр кольца. При p1 > p2 жидкость в левой части опустится, а в правой поднимется. Усилие, создаваемое действием разности давлений на перегородку, вызывает момент, стремящийся повернуть кольцо по часовой стрелке. Диапазон измерения перепадов давлений: для низкого давления (с водяным заполнением) до 1,6 кн/м2 (160 кгс/м2) при давлении среды до 150 кн/м2 (15 000 кгс/м2); для среднего (с ртутным заполнением) - до 33 кн/м2 (250 мм рт. ст.) при давлении среды 3,2 Мн/м2 (32 кгс/см2). Осн. приведённая погрешность ± 0,5-1,5%.

[823-3.jpg]

Рис. 3. Схема кольметра. Рис. 4. Схема колоцевого дифманомет кольного дифманора.

Колокольный Д. (рис. 4) представляет собой колокол, погружённый в жидкость и перемещающийся под влиянием разности давлений внутри (большее) и снаружи (меньшее) колокола. Противодействующая измеряемому давлению сила создаётся утяжелением колокола (гидростатич. уравновешивание) или деформацией пружины, на к-рой подвешивается колокол (механич. уравновешивание). Диапазон измерения перепада давлений от 40 н/м2до 4 кн/м2 (от 4 до 400 кгс/м2) при давлении среды от 10 кн/м2 до 0,3 Мн/м2(от 1000 кгс/м2 до 3 кгс/см2).

Механические Д. разделяются на мембранные с плоской упругой металлич. мембраной (рис. 5) и с неметаллич. мембраной и сильфонные. В мембранных Д. упругая металлич. мембрана прогибается под влиянием измеряемого давления, по величине прогиба определяют давление. В нек-рых конструкциях Д. мембрана служит только для разделения камер. Противодействующую силу при деформации создаёт тарированная цилиндрич. спиральная пружина, к-рая разгружает мембрану. Нек-рые мембранные Д. имеют защиту от односторонней перегрузки и могут применяться для измерения не только перепадов, но и избыточных давлений. Диапазон измерения давления от 0 до 6,3 кн/м2 (0-630 кгс/м2) и от 0,16 до 0,63 Мн/м2 (1,6-6,3 кгс/см2); диапазон перепада давлений до 133 кн/м2 (1000 мм рт. ст.) при макс, давлении среды до 60 Мн/м2 (600 кгс/см2). Основная приведённая погрешность ± 1,5%. Д. с неметаллич. мембранами (из резины и т. п. материалов) имеют только цилиндрич. спиральную пружину, не воспринимают изгибающих моментов и сжимающих усилий и работают только на растяжение. Для увеличения перемещения они изготовляются гофрированными и имеют жёсткий центр, образованный двумя металлическими дисками. Диапазон измерений перепада давлений до 133 кн/м2 (1000 мм рт. ст.) при давлении среды до 6,4 Мн/м2 (64 кгс/см2). Осн. приведённая погрешность ± 1-2% .
[823-4.jpg]

Рис. 5. Дифманометр с упругой мембраной и электрической передачей показаний.

Сильфонные Д. имеют чувствит. элемент - гофрированную металлич. коробку (сильфон) с тарированной цилиндрич. спиральной пружиной. Сильфон разделяет полость Д. на две камеры. Большее давление подводится в полость над сильфоном, а меньшее - внутрь. Под действием разности давлений сильфон прогибается на величину, пропорциональную измеряемому давлению. Диапазон измерений до 25 хн/м2 (2500 кгс/м2) при давлении среды до 32 Мн/м2 (320 кгс/см2). Осн. приведённая погрешность ±0,5-1% .

Поплавковые, кольцевые, колокольные и механич. Д. изготовляются показывающими, самопишущими и бесшкальными (с электрич. или пневматич. дистанционной передачей показаний), с электрич. контактным устройством. Д. для измерения расхода по методу переменного перепада выпускаются с интегрирующими и суммирующими устройствами. Дальнейшее развитие конструирования Д. идёт по пути усовершенствования механического Д.

Лит.: Кремлевский П. П., Расходомеры, 2 изд., М.- Л., 1963; Автоматизация, приборы контроля и регулирования производственных процессов в нефтяной и нефтехимической промышленности. Справочник, кн. 2, М., 1964. Г. Г. Мирзабеков.

ДИФОСГЕН, трихлорметило-в ы и эфир хлоругольной кислоты,
[823-5.jpg]

движная жидкость, слегка дымящая на воздухе, с характерным запахом прелого сена; tпл -57 оС, tкип 128 оС, d154 1,644, показатель преломления n20D 1,4566. Д. плохо растворим в воде, очень хорошо -в органич. растворителях; медленно гид-ролизуется водой (гидролиз значительно ускоряется при нагревании и в присутствии щелочей). Д. энергично взаимодействует с аммиаком и аминами, образуя мочевину или её производные. Эта реакция может служить для дегазации Д. При 300-350 °С, а также в присутствииFеС13, А1С13 и др. галогенидов металлов Д. разлагается с образованием СОС12, СО, ССl4 и др. Д. получают исчерпывающим хлорированием (при освещении) метилхлор-формиата.

Д. обладает сильным удушающим и заметным раздражающим действием. Непереносимая концентрация 0,075 мг/л, смертельная 0,25 мг/л (при экспозиции 30 мин). При отравлении Д. характерно наличие скрытого периода действия (до 6-8 ч). Очень опасно длит, воздействие малых концентраций Д., суммарное действие к-рых может привести к тяжёлым поражениям организма (т. н. кумулятивный эффект). Д. использовался во время 1-й мировой войны как отравляющее вещество.

Лит.: Соборовский Л. З., Эпштейн Г. Ю., Химия и технология боевых химических веществ, М.-Л., 1939;Флюри Ф., Церник Ф., Вредные газы, М., 1938. Р. Н. Стерлин.

ДИФОСФОПИРИДИНДИНУКЛЕОТИД (ДПН), кофермент ряда дегидро-генаэ, рациональное хим. название - ни-котинамидадениндинуклеотид (НАД).

ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЁТКА, оптический прибор, представляющий собой совокупность большого числа параллельных, равноотстоящих друг от друга штрихов одинаковой формы, нанесённых на плоскую или вогнутую оптич. поверхность. Таким образом, Д. р. представляет собой периодич. структуру: штрихи с определённым и постоянным для данной решётки профилем повторяются через строго одинаковый промежуток d, наз. периодом Д. р. (рис.). В Д. р. происходит дифракция света.

[823-6.jpg]

Схема образования спектров прозрачной дифракционной решётки, состоящей из щелей, при освещении её монохроматическим светом (M1j) и светом сложного спектрального состава (М2).

Осн. свойство Д. р.-способность разлагать падающий на неё пучок света по длинам волн, т. е. в спектр, что используется в спектральных приборах. Если штрихи нанесены на плоскую поверхность, то Д. р. наз. плоскими, если на вогнутую (обычно сферическую) поверхность - вогнутыми. Различают отражательные и прозрачные Д. р. У отражательных штрихи наносятся на зеркальную (обычно металлич.) поверхность и наблюдение ведётся в отражённом свете. У прозрачных штрихи наносятся на поверхность прозрачной (обычно стеклянной) пластинки (или вырезаются в виде узких щелей в непрозрачном экране) и наблюдение ведётся в проходящем свете. В совр. спектральных приборах применяются гл. обр. отражат. Д. р.

Наиболее наглядно описание действия Д. р. в случае прозрачной Д. р. При падении монохроматич. параллельного пучка света с длиной волны X под углом а на Д. р., состоящую из щелей ширины b, разделённых непрозрачными промежутками, происходит интерференция волн, исходящих от разных щелей. В результате после фокусировки положения максимумов на экране (рис.) определяются уравнением: d (sin a + sin В) = mX, где Р - угол между нормалью к решётке и направлением распространения пучка (угол дифракции); целое число т = 0, ±1, ± 2, ± 3, ... равно кол-ву длин волн, на к-рое волна от нек-рого элемента данной щели Д. р.отстаёт от волны, исходящей от такого же элемента соседней щели (или опережает её). Монохроматич. пучки, относящиеся к различным значениям га, наз. порядками спектра, а даваемые ими изображения входной щели - спектральными линиями. Все порядки, соответствующие положит. и отри-цат. значениям т, лежат симметрично относительно нулевого. По мере возрастания числа щелей Д. р. спектральные линии становятся более узкими и резкими. Если на Д. р. падает излучение сложного спектрального состава, то для каждой длины волны получится свой набор спектральных линий и, следовательно, излучение будет разложено в спектры по числу возможных значений т. Относит, интенсивность линий определяется функцией распределения энергии от отдельной щели.

Основными характеристиками Д. р. являются угловая дисперсия и разрешающая способность. Угловая дисперсия, определяющая угловую ширину спектра, зависит от отношения разности углов дифракции для двух длин волн:
[823-7.jpg]

Т. о., угловая ширина спектров изменяется приблизительно пропорционально номеру порядка спектра. Разрешающая способность R измеряется отношением длины волны к наименьшему интервалу длин волн, к-рый ещё может разделить решётка:

[823-8.jpg]

где N - число щелей Д. p., a W - ширина заштрихованной поверхности. При заданных углах разрешающая способность может быть повышена только за счёт увеличения ширины Д. р.

Д. р., применяемые для работы в различных областях спектра, отличаются частотой и профилем штрихов, размерами, формой, материалом поверхности и др. Для ультрафиолетовой и видимой областей наиболее типичны Д. р., имеющие от 300 до 1200 штрихов на 1 мм. Штрихи этих Д. р. выполняют в слое алюминия, предварительно нанесённом на стеклянную поверхность испарением в вакууме. Д. р. для вакуумной ультрафиолетовой области изготавливаются преим. на стеклянных поверхностях. В этой области незаменимы Д. р., изготовленные на вогнутых (в большинстве случаев - сферических) поверхностях, обладающих способностью фокусировать спектр. В инфракрасной области применяются Д. р., наз. эшелеттами, к-рые имеют от 300 до 0,3 штрихов на 1 мм и выполняются на различных мягких металлах.

Кроме спектральных приборов, Д. р. применяются также в качестве оптич. датчиков линейных и угловых перемещений (измерительные Д. р.), поляризаторов и фильтров инфракрасного излучения, делителей пучков в интерферометрах и для др. целей. В СССР изготовляются все известные виды Д. р. Макс, количество штрихов на 1 мм составляет 2400, а макс, размер заштрихованной поверхности равен 300 X 300 мм.

Лит.: Ландсберг Г. С., Оптика, 4 изд., М., 1957 (Курс общей физики, т. 3); Тарасов К. И., Спектральные приборы. Л., 1968. См. также лит. при ст. Дифракция света. Ф. М. Герасимов .

ДИФРАКЦИЯ (от лат. diffractus -разломанный) волн, явления, наблюдаемые при прохождении волн мимо края препятствия, связанные с отклонением волн от прямолинейного распространения при взаимодействии с препятствием. Из-за Д. волны огибают препятствия, проникая в область геометрич. тени. Именно Д. звуковых волн объясняется возможность слышать голос человека, находящегося за углом дома. Дифракцией радиоволн вокруг поверхности Земли объясняется приём радиосигналов в диапазоне длинных и средних радиоволн далеко за пределами прямой видимости излучающей антенны.

Д. волн - характерная особенность распространения волн независимо от их природы. Объяснить Д. в первом приближении можно, применив Гюйгенса - Френеля принцип. Согласно этому принципу, рассматривая распространение к.-л. волны, можно каждую точку среды, к-рой достигла эта волна, считать источником вторичных волн. Поэтому, поставив на пути волн экран с малым отверстием (диаметр порядка длины волны), получим в отверстии экрана источник вторичных волн, от которого распространяется сферическая волна", попадая и в область геометрич. тени. Если имеется экран с двумя малыми отверстиями или щелями, дифрагирующие волны накладываются друг на друга и в результате интерференции волн дают чередующееся в пространстве распределение максимумов и минимумов амплитуды результирующей волны с плавными переходами от одного к другому. С увеличением количества щелей максимумы становятся более узкими. При большом количестве равноотстоящих щелей (дифракционная решётка) получают резко разделённые направления взаимного усиления волн.

Д. волн существенно зависит от соотношения между длиной волны X и размером объекта, вызывающего Д. Наиболее отчётливо Д. обнаруживается в тех случаях, когда размер огибаемых препятствий соизмерим с длиной волны. Поэтому легко наблюдается Д. звуковых, сейсмических и радиоволн, для к-рых это условие обычно всегда выполняется (Х~от м до км), и гораздо труднее наблюдать без спец. устройств дифракцию света (Х~400-750 нм). Эта же причина приводит к многим технич. трудностям при изучении волновых свойств др. объектов. Так, поскольку рентгеновские лучи имеют длину волны от сотен до 0,0001 А, дифракц. решётку с таким расстоянием между щелями изготовить невозможно, поэтому нем. физик М. Лауэ для изучения дифракции рентгеновских лучей использовал в качестве дифракционной решётки кристалл, в к-ром атомы (ионы) расположены в правильном порядке.

Д. волн сыграла большую роль в изучении природы микрочастиц. Экспериментально было установлено, что при прохождении микрочастиц (напр., электронов) через среду (газ, кристалл) наблюдается Д. Дифракция частиц является следствием того, что микрочастицы обладают двойственной природой (т. н. корпу-скулярно-волновым дуализмом): в одних явлениях поведение микрочастиц может быть объяснено на основе представления о частицах, в других, как, напр., в явлениях Д., на основе представления о волнах. Согласно квантовой механике, каждой частице соответствует т. н. волна де Бройля, длина к-рой зависит от энергии частицы. Так, электрону с энергией 1 эв соответствует волна де Бройля длиной того же порядка, что и размер атома. Д. электронов и нейтронов широко пользуются для изучения строения вещества.
В. Н. Парыгин.

ДИФРАКЦИЯ АТОМОВ И МОЛЕКУЛ, см. Дифракция частиц.

ДИФРАКЦИЯ НЕЙТРОНОВ, см. Дифракция частиц.

ДИФРАКЦИЯ РАДИОВОЛН, явления,возникающие при встрече радиоволн с препятствиями. Радиоволна, встречая при распространении в однородной среде препятствие, изменяется по амплитуде и фазе и проникает в область тени, отклоняясь от прямолинейного пути. Это явление, аналогичное дифракции света, называется Д. р. В реальных случаях распространения радиоволн препятствия могут иметь произвольную форму и быть как непрозрачными, так и полупрозрачными для радиоволн.

Д. р. на сферич. поверхности Земли является одной из причин приёма радиосигналов за пределами прямой видимости, когда передатчик и приёмник разделены выпуклостью земного шара. Эффект дифракционного проникновения радиоволны в область тени, как и в оптич. случае, зависит от соотношения между размером препятствия и длиной волны и выражен тем сильнее, чем больше длина волны. С другой стороны, радиоволны, распространяясь вблизи полу проводящей поверхности Земли, затухают вследствие частичного поглощения энергии волны Землёй тем сильнее, чем короче волна. Поэтому дальность распространения т. н. земной волны существенно зависит от её длины. Достаточно длинные волны могут распространяться за счёт Д. р. на значит, расстояния, достигающие иногда неск. тысяч км.

Д. р. на отдельно стоящих зданиях и выпуклостях рельефа, расположенных вдоль трассы (горы и др.), также может играть полезную роль. Она вызывает перераспределение энергии волны и может привести к "усилению" радиосигнала за препятствием.

Особую роль играет дифракция при распространении радиоволн в средах, содержащих локальные неоднородности, напр. в ионосфере, где радиоволна встречает множество хаотически расположенных препятствий - облаков различной формы, отличающихся электрич. свойствами. Непрерывно происходящие изменения и движения неоднородностей вызывают изменения энергии сигнала в точке приёма - т. н. дифракционные замирания радиоволны.

Дифракционные явления могут быть существенными при излучении радиоволн направленными антеннами и при радиолокации сложных объектов.

Лит. см. при ст. Распространение радиоволн.

ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ, рассеяние рентгеновских лучей кристаллами (или молекулами жидкостей и газов), при к-ром из начального пучка лучей возникают вторичные отклонённые пучки той же длины волны, появившиеся в результате взаимодействия первичных рентгеновских лучей с электронами вещества; направление и интенсивность вторичных пучков зависят от строения рассеивающего объекта. Дифрагированные пучки составляют часть всего рассеянного веществом рентгеновского излучения. Наряду с рассеянием без изменения длины волны наблюдается рассеяние с изменением длины волны -т. н. комптоновское рассеяние (см. Комптона эффект). Явление Д. р. л., доказывающее их волновую природу, впервые было экспериментально обнаружено на кристаллах нем. физиками М. Лауэ, В. Фридрихом и П. Книппингом в 1912. Кристалл является естественной трёхмерной дифракционной решёткой для рентгеновских лучей, т. к. расстояние между рассеивающими центрами (атомами) в кристалле одного порядка с длиной волны рентгеновских лучей (~ 1А= = 10-8 см). Д. р. л. на кристаллах можно рассматривать как избирательное отражение рентгеновских лучей от систем атомных плоскостей кристаллич. решётки (см. Брэгга - Вульфа условие). Направление дифракционных максимумов удовлетворяет одновременно трём условиям:

a (cos а - cos а0) = НX,
b(cosВ--cosВ0) = KX,
с (cos у-cos y0) = LX

Здесь а, b, с-периоды кристаллической решётки по трём её осям; а0, В0, y0 -углы, образуемые падающим, а а, В, y -рассеянным лучами с осями кристалла; Х - длина волны рентгеновских лучей, Н, К, L - целые числа. Эти уравнения наз. уравнениями Лауэ. Дифракционную картину получают либо от неподвижного кристалла с помощью рентгеновского излучения со сплошным спектром (т. н. лауэграмма; рис. 1), либо от вращающегося или колеблющегося кристалла (углы ас, Зо меняются, a yo остаётся постоянным), освещаемого монохроматич. рентгеновским излучением (X - постоянно), либо от поликристалла, освещаемого мс~ нохроматич. излучением. В последнем случае, благодаря тому что отд. кристаллы в образце ориентированы произвольно, меняются углы а0, В0, y0.

Рис. 1. Лауэграмма берилла.

Интенсивность дифрагированного луча зависит в первую очередь от т. н. структурного фактора, к-рый определяется атомными факторами атомов кристалла, их расположением внутри элементарной ячейки кристалла, а также характером тепловых колебаний атомов. Структурный фактор зависит от симметрии расположения атомов в элементарной ячейке. Интенсивность дифрагированного луча зависит также от размеров и формы объекта, от совершенства кристалла и пр.

Д. р. л. от поликристаллич. тел приводит к возникновению резко выраженных конусов вторичных лучей. Осью конуса является первичный луч, а угол раствора конуса равен 4 О (О - угол между отражающей плоскостью и падающим лучом). Каждый конус соответствует определённому семейству кристаллич. плоскостей. В создании конуса участвуют все кристаллики, семейство плоскостей к-рых расположено под углом ft к падающему лучу. Если кристаллики малы и их приходится очень большое количество на единицу объёма, то конус лучей будет сплошным. В случае текстуры, т. е. наличия предпочтительной ориентировки кристалликов, дифракционная картина (рентгенограмма) будет состоять из неравномерно зачернённых колец (см. также Дебая - Шеррера метод).

Метод Д. р. л. на кристаллах дал возможность определять длину волны рентгеновских лучей, если известна структура кристаллич. решётки, благодаря чему возникла рентгеновская спектроскопия, сыгравшая важную роль при установлении строения атома. Наблюдения Д. р. л. известной длины волны на кристалле неизвестной структуры позволяют установить характер этой структуры (расположение ионов, атомов и молекул, составляющих кристалл), что послужило основой рентгеновского структурного анализа.

Д. р. л. наблюдается также при рассеянии их аморфными твёрдыми телами, жидкостями и газами. В этом случае на кривой зависимости интенсивности от угла рассеяния вокруг центрального пятна появляются широкие кольца типа гало (рис. 2). Положение этих колец (угол в) определяется средним расстоянием между молекулами или расстояниями между атомами в молекуле. Из зависимости интенсивности от угла рассеяния можно определить распределение плотности вещества.

Рис. 2. Рентгенограмма воды.

Д. р. л. можно наблюдать также на обычной оптической дифракционной решётке при скользящем падении (меньше угла полного отражения) рентгеновских лучей на решётку. С помощью этого метода можно непосредственно и с большой точностью измерять длины волн рентгеновских лучей.

Лит.: Ландсберг Г. С., Оптика, 4 изд., М., 1957 (Общий курс физики, т. 3); Боровский И. Б., Физические основы рентгеноспектральных исследований, М., 1956. В. И. Иверонова.

ДИФРАКЦИЯ СВЕТА, явления, наблюдающиеся при распространении света мимо резких краёв непрозрачных или прозрачных тел, сквозь узкие отверстия. При этом происходит нарушение прямолинейности распространения света, т. е. отклонение от законов геометрической оптики. Вследствие Д. с. при освещении непрозрачных экранов точечным источником света на границе тени, где, согласно законам геометрич. оптики, должен был бы происходить скачкообразный переход от тени к свету, наблюдается ряд светлых и тёмных дифракционных полос (рис. 1
и 2). Поскольку дифракция свойственна всякому волновому движению, открытие Д. с. в 17 в. итальянским физиком и астрономом Ф. Гримальди и её объяснение в начале 19 в. французским физиком О. Френелем явились одним из основных доказательств волновой природы света.

Рис. 1. Тень винта, окружённая дифракционными полосами.

Приближённая теория Д. с. основана на применении Гюйгенса-Френеля принципа. Для качественного рассмотрения простейших случаев Д. с. может быть применено построение зон Френеля. При прохождении света от точечного источника через небольшое круглое отверстие в непрозрачном экране (рис. 2, а) или вокруг круглого непрозрачного экрана (рис. 2, б) наблюдаются дифракционные полосы в виде концентрич. окружностей.

Рис. 2. Дифракционные кольца при прохождении света: а - через круглое отверстие; б - вокруг круглого экрана.

Если отверстие оставляет открытым чётное число зон, то в центре дифракционной картины получается тёмное пятнышко, при нечётном числе зон - светлое. В центре тени от круглого экрана, закрывающего не слишком большое число зон Френеля, получается светлое пятнышко.

Различают 2 случая Д. с. - дифракция сферич. волны, при к-рой размер отверстия сравним с размером зоны Френеля, т. е. b~КОРЕНЬ(zX), где b -размер отверстия, z - расстояние точки наблюдения от экрана, X - длина волны (дифракция Френеля), и Д. с. в параллельных лучах, при к-рой отверстие много меньше одной зоны Френеля, т. е. b<<КОРЕНЬ(zX) (дифракция Фраунгофера). В последнем случае при падении параллельного пучка света на отверстие пучок становится расходящимся с углом расходимости ф ~ Х/b (дифракционная расходимость).
[823-13.jpg]

Рис. 3. Дифракция Фраунгофера на щели.

Большое практич. значение имеет случай Д. с. на щели. При освещении щели параллельным пучком монохроматич. света на экране получается ряд тёмных и светлых полос, быстро убывающих по интенсивности. Если свет падает перпендикулярно к плоскости щели, то полосы расположены симметрично относительно центральной полосы (рис. 3), а освещённость меняется вдоль экрана периодически с изменением ф, обращаясь в нуль при углах ср, для к-рых sin ф = m Х/b (m = = 1,2,3,...). При промежуточных значениях освещённость достигает макс, значений. Главный максимум имеет место при m=0, при этом sin ф = 0, т. е. ф = 0. Следующие максимумы, значительно уступающие по величине главному, соответствуют значениям ф, определённым из условий: sin = l,43X/b; 2.46Х/6b; 3,47 Х/b и т. д.

С уменьшением ширины щели центральная светлая полоса расширяется, а при данной ширине щели положение минимумов и максимумов зависит от X, т. е. расстояние между полосами тем больше, чем больше X. Поэтому в случае белого света имеет место совокупность соответствующих картин для разных цветов. При этом главный максимум будет общим для всех X и представится в виде белой полоски, переходящей в цветные полосы с чередованием цветов от фиолетового к красному.

Если имеются 2 идентичные параллельные щели, то они дают одинаковые накладывающиеся друг на друга дифракционные картины, вследствие чего максимумы соответственно усиливаются, а кроме того, происходит взаимная интерференция волн от первой и второй щелей, значительно осложняющая картину. В результате минимумы будут на прежних местах, т. к. это те направления, по к-рым ни одна из щелей не посылает света. Кроме того, возможны направления, в к-рых свет, посылаемый двумя щелями, взаимно уничтожается. Т. о., прежние минимумы определяются условиями: b sin ф = X, 2Х, ЗХ, . ., добавочные минимумы d sin ф = = Х/2, ЗХ/2, 5Х/2, ... (d - размер щели b вместе с непрозрачным промежутком а), главные максимумы d sin ф = 0,Х, 2Х, ЗХ, ..., т. е. между двумя главными максимумами располагается один добавочный минимум, а максимумы становятся более узкими, чем при одной щели. Увеличение числа щелей делает это явление ещё более отчётливым (см. Дифракционная решётка).

Д. с. играет существенную роль при рассеянии света в мутных средах, напр. на пылинках, капельках тумана и т. п. На Д. с. основано действие спектральных приборов с дифракционной решёткой (дифракционных спектрометров). Д. с. определяет предел разрешающей способности оптич. приборов (телескопов, микроскопов и др.). Благодаря Д. с. изображение точечного источника (напр., звезды в телескопе) имеет вид кружка с диаметром Xf/D, где D - диаметр объектива, a f - его фокусное расстояние. Расходимость излучения лазеров также определяется Д. с. Для уменьшения расходимости лазерного пучка его преобразуют в более широкий пучок при помощи телескопа, и тогда расходимость излучения определяется диаметром D объектива по формуле ф~Х/О.

Лит.: Ландсберг Г. С.. Оптика, 4 изд., М., 1957 (Общий курс физики, т. 3); Горелик Г. С., Колебания и волны, 2 изд., М., 1959, гл. 9.

ДИФРАКЦИЯ ЧАСТИЦ, рассеяние микрочастиц (электронов, нейтронов, атомов и т. п.) кристаллами или молекулами жидкостей и газов, при к-ром из начального пучка частиц данного типа возникают дополнит, отклонённые пучки этих частиц; направление и интенсивность таких отклонённых пучков зависят от строения рассеивающего объекта.

Д. ч. может быть понята лишь на основе квантовой теории. Дифракция - явление волновое, оно наблюдается при распространении волн различной природы: дифракция света, звуковых волн, волн на поверхности жидкости и т. д. Дифракция при рассеянии частиц, с точки зрения классич. физики, невозможна.

Квантовая механика устранила абс. грань между волной и частицей. Осн. положением квантовой механики, описывающей поведение микрообъектов, является корпускулярно-волновой дуализм, т. е. двойственная природа микрочастиц. Так, поведение электронов в одних явлениях, напр. при наблюдении их движения в камере Вильсона или при измерении электрич. заряда в фотоэффекте, может быть описано на основе представлений о частицах, в других же, особенно в явлениях дифракции,- только на основе представления о волнах. Идея "волн материи" была высказана франц. физиком Л. де Бройлем в 1924 и вскоре получила блестящее подтверждение в опытах по Д. ч.

Согласно квантовой механике, свободное движение частицы с массой т и импульсом р = mv (где v - скорость частицы) можно представить как плоскую монохроматич. волну w0 (волну де Брой-ля) с длиной волны

Х = h/p, (1) распространяющуюся в том же направлении (напр., в направлении оси x), в к-ром движется частица (рис. 1). Здесь h -Планка постоянная. Зависимость w0от координаты х даётся формулой
[823-14.jpg]

направлен в сторону распространения волны, или вдоль движения частицы.

[823-15.jpg]

Рис. 1. Сопоставление волны и свободно движущейся частицы. Вверху показано прямолинейное движение частицы с массой m и импульсом p=mv (v - скорость частицы), внизу - распространение соответствующей ей "материальной волны" w0 ~COS k0x с длинной волны X = h/p.

Т. о., волновой вектор монохроматич. волны, связанной со свободно движущейся микрочастицей, пропорционален её импульсу или обратно пропорционален длине волны.

Поскольку кинетич. энергия сравнительно медленно движущейся частицы Е = mv2/2, длину волны можно выразить и через энергию:
[823-16.jpg]

При взаимодействии частицы с нек-рым объектом - с кристаллом, молекулой и т. п. - её энергия меняется: к ней добавляется потенциальная энергия этого взаимодействия, что приводит к изменению движения частицы. Соответственно меняется характер распространения связанной с частицей волны, причём это происходит согласно принципам, общим для всех волновых явлений. Поэтому основные геометрич. закономерности Д. ч. ничем не отличаются от закономерностей дифракции любых волн (см. Дифракция волн). Общим условием дифракции волн любой природы является соизмеримость длины падающей волны X с расстоянием d между рассеивающими центрами: X~
[823-17.jpg]

Рис. 2. Схема впыта Дэвиссона - Джермера: К-монокристалл никеля; Л - источник электронов; В - приёмник электронов; О-угол отклонения электронных пучков. Пучок электронов падает перпендикулярно отшлифованной плоскости кристалла S. При поворотах кристалла вокруг оси О гальванометр, присоединённый к приёмнику В, даёт периодически возникающие максимумы.

[823-18.jpg]

Здесь V выражено в в, а X - в А (1А = = 10-8с.м). При напряжениях V порядка 100 в, к-рые использовались в этих опытах, получаются т. н. "медленные" электроны с X порядка lA. Эта величина близка к межатомным расстояниям d в кристаллах, к-рые составляют неск. А и менее, и соотношение X~
[823-19.jpg]

здесь 6 - угол, под к-рым падает пучок электронов на данную кристаллографич. плоскость (угол скольжения), a. d - расстояние между соответствующими кристаллографич. плоскостями.

[823-20.jpg]

Рис. 3. Запись дифракционных максимумов в опыте Дэвиссона-Джермера по дифракции электронов при различных углах поворота кристалла ф для двух значений угла отклонения электронов в и двух ускоряющих напряжений V. Максимумы отвечают отражению от различных кристаллографич. плоскостей, индексы которых указаны в скобках.

В опыте Дэвиссона и Джермера при "отражении" электронов от поверхности кристалла никеля при определённых углах отражения возникали максимумы (рис. 3). Эти максимумы отражённых пучков электронов соответствовали формуле (6), и их появление не могло быть объяснено никаким другим путём, кроме как на основе представлений о волнах и их дифракции; т. о., волновые свойства частиц - электронов - были доказаны экспериментом.

При более высоких ускоряющих электрич. напряжениях (десятках кв) электроны приобретают достаточную кинетич. энергию, чтобы проникать сквозь тонкие плёнки вещества (толщиной порядка 10-5см, т. е. тысячи А). Тогда возникает т. н. дифракция быстрых электронов на прохождение (рис. 4), к-рую на поликристаллич. плёнках алюминия и золота впервые исследовали английский учёный Дж. Дж. Томсон и советский физик П. С. Тарта-ковский.

Рис. 4. Дифракционная картина, образованная пучком электронов (ускоряющее напряжение 60 кв, Х=0,05 А) при прохождении через монокристальную плёнку моногидрата, хлористого бария. Центральное пятно-след начального пучка, остальные пятна-следы пучков, дифрагированных различными системами плоскостей кристалла.

Вскоре после этого удалось наблюдать и явления дифракции атомов и молекул. Атомам с массой М, находящимся в газообразном состоянии в сосуде при абс. темп-ре Т, соответствует, по формуле (4), длина волны
[823-22.jpg]

где k - Больцмана постоянная (т. к. средняя кинетическая энергия атома Е =3/2kT). Для лёгких атомов и молекул (Н, Н2, Не) и темп-р в сотни градусов Кельвина длина волны X также составляет около lA. Дифрагирующие атомы или молекулы практически не проникают в глубь кристалла; поэтому можно считать, что их дифракция происходит при рассеянии от поверхности кристалла, т. е. как на плоской дифракционной решётке.
[823-23.jpg]

Рис. 5. Принципиальная схема прибора для исследования дифракции атомных или молекулярных пучков: Л-атомный или молекулярный пучок; К-кристалл; О-капилляр, подводящий газ; D-диафрагма; R-приёмник, соединённый с манометром. Манометр измеряет давление, созданное дифрагированным пучком.

Выпущенный из сосуда и сформированный с помощью диафрагм молекулярный или атомный пучок (см. Молекулярные пучки) направляют на кристалл и тем или иным способом фиксируют "отражённые" дифракционные пучки (рис. 5). Таким путём немецкие учёные О. Штерн и И. Эстерман, а также др. исследователи на рубеже 30-х гг. наблюдали дифракцию атомных и молекулярных пучков (рис. 6).

Позже наблюдалась дифракция протонов, а также дифракция нейтронов (рис. 7), получившая широкое распространение как один из методов исследования структуры вещества.

Так было доказано экспериментально, что волновые свойства присущи всем без исключения микрочастицам.

В широком смысле слова дифракционное рассеяние всегда имеет место при упругом рассеянии различных элементарных частиц атомами и атомными ядрами, а также друг другом. С другой стороны, представление о корпускулярно-волновом дуализме материи укрепилось при анализе явлений, всегда считавшихся типично волновыми, напр, дифракции рентгеновских лучей - коротких электромагнитных волн с длиной волны X ~ "0,5-5А. В то же время начальный и рассеянный пучки рентгеновских лучей можно рассматривать и регистрировать как поток частиц - фотонов, определяя с помощью счётчиков фотонов число фотонов рентгеновского излучения в этих пучках.

Следует подчеркнуть, что волновые свойства присущи каждой частице в отдельности. Это было подтверждено опытом В. А. Фабриканта (1947) по дифракции электронов, поочерёдно летящих через образец.

[823-24.jpg]

Рис. 6. Дифракция на кристалле фтористого лития атомов гелия (a) и молекул водорода при двух значениях абсолютной температуры Т (6). По оси абсцисс отложен угол дифракции O, а по оси ординат-интенсивность дифрагированных пучков (в сантиметрах отклонения стрелки измерительного прибора). Кроме пика при 9 = 0°, обязанного зеркальному отражению начального пучка, наблюдаются два боковых дифракционных лика. При Т = 580 К боковые пики лежат несколько ближе к центральному, чем при Т=290 К, что соответствует уменьшению длины волны X с повышением температуры [см. формулу (7)].

Рис. 7. Дифракция при рассеянии нейтронов на монокристалле NaCl.

При этом постепенно, по истечении нек-рого времени, возникала обычная картина дифракции. Это означало, что каждый из электронов подчиняется всем законам волновой оптики, а дифракционный эффект обязан взаимодействию волны де Бройля каждого электрона со всем объёмом кристалла. Начальная волна wo [см. формулу (2)], описывающая движение начального электрона, при прохождении через кристалл превращается в рассеянную волну ф.

Образование дифракционной картины при рассеянии частиц интерпретируется в квантовой механике след, образом. Прошедший через кристалл электрон в результате взаимодействия с кристаллич. решёткой образца отклоняется от своего первоначального движения и попадает в некоторую точку фотопластинки, установленной за кристаллом для регистрации электронов. Войдя в фотографич. эмульсию, электрон проявляет себя как частица и вызывает фотохимич. реакцию. На первый взгляд попадание электрона в ту или иную точку пластинки носит совершенно произвольный характер. Но при длительной экспозиции постепенно возникает упорядоченная картина дифракционных максимумов и минимумов в распределении электронов, прошедших через кристалл.

Точно предсказать, в какое место фотопластинки попадёт данный электрон, нельзя, но можно указать вероятность его попадания после рассеяния в ту или иную точку пластинки. Эта вероятность определяется волновой функцией электрона w, точнее квадратом её модуля (т. к. w - комплексная функция) |w|2. Однако, поскольку вероятность при больших числах испытаний реализуется как достоверность, при многократном прохождении электрона через кристалл или, как это имеет место в реальных дифракционных экспериментах, при прохождении через образец пучка электронов, содержащего громадное кол-во частиц, величина |w|2 определяет уже распределение интенсивности в дифрагированных пучках. Т. о., результирующая волновая функция электрона ф, к-рую можно рассчитать, зная ф0 и потенциальную энергию взаимодействия электрона с кристаллом, даёт полное описание дифракц. опыта в статистическом смысле.

Специфика дифракции различных частиц. Атомная амплитуда рассеяния. Вследствие общности геометрич. принципов дифракции теория Д. ч. многое заимствовала из развитой ранее теории дифракции рентгеновских лучей. Однако взаимодействие разного рода частиц -электронов, нейтронов, атомов и т. п. -с веществом имеет различную физич. природу. Поэтому при рассмотрении Д. ч. на кристаллах, жидкостях и т. д. существенно знать, как рассеивает различные частицы изолированный атом вещества. Именно в рассеянии частиц отдельными атомами проявляется специфика дифракции различных частиц. Напр., рассеяние электронов определяется взаимодействием его электрич. заряда с электро-статич. потенциалом атома ф (r) (r - расстояние от атома), к-рый складывается из потенциала положительно заряженного ядра и потенциала электронной оболочки атома; потенциальная энергия этого взаимодействия U = еa(r). Рассеяние нейтронов определяется потенциалом их сильного взаимодействия с атомным ядром, а также взаимодействием магнитного момента нейтрона с магнитным моментом атома (магнитное рассеяние нейтронов; см. Нейтронография).

Количественно рассеивающую способность атома характеризуют величиной, к-рая наз. атомной амплитудой рассеяния f(O), где в - угол рассеяния, и определяется потенциальной энергией взаимодействия частиц данного сорта с атомами рассеивающего вещества. Интенсивность рассеяния частиц пропорциональна f2 (O).

Если атомная амплитуда известна, то, зная взаимное расположение рассеивающих центров - атомов вещества в образце (т. е. зная структуру рассеивающего образца), можно рассчитать общую картину дифракции (к-рая образуется в результате интерференции вторичных волн, исходящих из рассеивающих центров).

Теоретич. расчёт, подтверждённый экспериментальными измерениями, показывает, что атомная амплитуда рассеяния электронов fэ максимальна при O =0 и спадает с увеличением O. Величина fэзависит также от заряда ядра (атомного номepa) Z и от строения электронных оболочек атома, в среднем возрастая с увеличением Z приблизительно как Z 1/3 для малых О и как Z 2/3 при больших значениях в, но обнаруживая колебания, связанные с периодич. характером заполнения электронных оболочек.

Атомная амплитуда рассеяния нейтронов fндля тепловых нейтронов (нейтронов с энергией в сотые доли эв) не зависит от угла рассеяния, т. е. рассеяние таких нейтронов ядром одинаково во всех направлениях (сферически симметрично). Это объясняется тем, что атомное ядро с радиусом порядка 10-13 см является "точкой" для тепловых нейтронов, длина волны к-рых составляет 10-8 см. Кроме того, для рассеяния нейтронов нет явной зависимости от заряда ядра Z. Вследствие наличия у нек-рых ядер т. н. резонансных уровней с энергией, близкой к энергии тепловых нейтронов, fн для таких ядер отрицательны.

Атом рассеивает электроны значительно сильнее, чем рентгеновские лучи и нейтроны: абсолютные значения амплитуды рассеяния электронов fэ - это величины порядка 10-8см, рентгеновских лучей -fp~l0-11 см, нейтронов - fн ~ 10-12см. Т. к. интенсивность рассеяния пропорциональна квадрату амплитуды рассеяния, электроны взаимодействуют с веществом (рассеиваются) примерно в миллион раз сильнее, чем рентгеновские лучи (и тем более нейтроны). Поэтому образцами для наблюдения дифракции электронов обычно служат тонкие плёнки толщиной 10-6 - 10-5см, тогда как для наблюдения дифракции рентгеновских лучей и нейтронов нужно иметь образцы толщиной в несколько мм.

Дифракцию на любой системе атомов (молекуле, кристалле и т. п.) можно рассчитать, зная координаты их центров fiи атомные амплитуды fi для данного сорта частиц.

Наиболее ярко эффекты Д. ч. выявляются при дифракции на кристаллах. Однако тепловое движение атомов в кристалле несколько изменяет условия дифракции, и интенсивность дифрагированных пучков с увеличением угла в в формуле (6) уменьшается. При Д. ч. жидкостями, аморфными телами или молекулами газов, упорядоченность к-рых значительно ниже кристаллической, обычно наблюдается несколько размытых дифракционных максимумов.

Д. ч., сыгравшая в своё время столь большую роль в установлении двойственной природы материи - корпускулярно-волнового дуализма (и тем самым послужившая экспериментальным обоснованием квантовой механики), давно уже стала одним из главных рабочих методов для изучения строения вещества. На Д. ч. основаны два важных совр. метода анализа атомной структуры вещества -электронография и нейтронография.

Лит.: Блохинцев Д. И., Основы квантовой механики, 4 изд., М., 1963, гл. 1, §7, 8; Пинскер 3. Г., Дифракция электронов, М.- Л., 1949; Вайнштейн Б.К., Структурная электронография, М., 1956; Бэкон Д ж., Дифракция нейтронов, пер. с англ., М., 1957; Рамзе и Н., Молекулярные пучки, пер. с англ., М., 1960. Б. К. Вайнштейн.

ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ, см. Дифракция частиц.

ДИФТЕРИЯ (от греч. diphtherion -кожица, плёнка), острое инфекционное заболевание, характеризующееся воспалением с образованием плотных плёнчатых налётов на месте внедрения возбудителя болезни и тяжёлым общим отравлением (интоксикацией) организма. Возбудитель Д. - Corynobacterium diphteriae - открыт нем. бактериологом Э. Клебсом в 1883 и выделен в чистой культуре нем. бактериологом Ф. Лёфлером; имеет форму палочки и образует дифтерийный экзотоксин. Источник инфекции при Д. -больной или бактерионоситель (здоровый или переболевший Д.). Дифтерийные палочки выделяются в окружающую среду с каплями слизи при разговоре, чихании, кашле. Заражение происходит при попадании микроба в организм через слизистые оболочки зева, носа и верхних дыхат. путей, реже - конъюнктивы глаз, повреждённую кожу и т. д. (воздушно-капельный путь); возможно попадание возбудителя через рот с пищей и через различные предметы - бельё, одежду, книги, игрушки и т. п. Дифтерийная палочка, попав на слизистые оболочки (или кожу), выделяет токсин, к-рый вызывает некроз (омертвение) эпителия и поражение кровеносных сосудов с выпадением сетки фибрина (белок крови) и образованием плёнки; при поступлении токсина в кровь развивается общая интоксикация; при этом преим. поражаются нервная и сердечно-сосудистая системы, надпочечники, почки. Инкубац. период -2-10 дней.

По локализации процесса различают Д. зева (наиболее частая форма), дыхат. путей, носа, глаз, уха, наружных половых органов (у девочек), кожи, пупка у новорождённых, Д. ран и др.

Д. зева. При локализованной форме плёнчатые налёты покрывают миндалины, не переходя за их пределы, лим-фатич. узлы увеличены умеренно, темп-ра тела повышается до 38,5-39 °С. Недомогание, понижение аппетита, головная боль выражены незначительно. При распространённой форме налёты переходят с миндалин на слизистую оболочку нёбных дужек, язычка, глотки; общее недомогание выражено достаточно ярко. Токсич. форма характеризуется обширным поражением зева; миндалины отёчны, поверхность их покрыта толстыми налётами грязно-белого цвета. Процесс может распространиться на носоглотку и полость носа. Обычно развивается отёк подкожной клетчатки вокруг увеличенных верхнешейных лимфатич. узлов; явления интоксикации прогрессивно нарастают: нарушается сердечный ритм, глотание затруднено, при переходе процесса на органы дыхания нарушается дыхание, при явлениях миокардита в остром периоде отмечаются носовые кровотечения; боли в животе, понос, может наступить коллапс.

Д. дыхательных путей. При локализации процесса на слизистой оболочке гортани или трахеи вследствие образования плёнок, отёка, инфильтрации слизистой оболочки и спазм гортанной мускулатуры прогрессивно нарастают расстройства дыхания - дифтерийный круп. Круп проявляется "лающим" кашлем, сиплым голосом, вплоть до полной афонии (отсутствие голоса), резким затруднением вдоха. При переходе процесса на бронхи возникает тяжёлая форма Д.- распространённый круп.

Д. носа встречается у детей младшего возраста, интоксикация обычно не наблюдается; проявляется односторонним насморком с кровянистыми выделениями, склонна к затяжному течению.

Д. глаз, уха, наружных половых органов, пище-варит. тракта, кожи и ран, в т. ч. пупочной раны у новорождённых, в совр. мед. практике почти не встречается.

Осложнения отмечаются в основном лишь при токсич. форме Д., особенно при запоздалом начале сывороточного лечения. Коллапс развивается на 2-3-4-й день болезни и тяжёлый миокардит на 5-6-й день болезни; иногда возникают периферич. параличи, параличи черепно-мозговых нервов, токсич. нефроз; при дифтерийном крупе - пневмония.

Лечение. Возможно раннее введение антитоксич. противодифтерийной сыворотки; витаминотерапия; антибактериальная терапия. При дифтерийном крупе при нарастании явлений нарушения дыхания и кислородном голодании -срочная операция (интубация или трахеотомия).

Профилактика. Осн. роль в борьбе с Д. играет активная иммунизация. В СССР противодифтерийные прививки обязательны для всего детского населения (в период с 5-6 мес до 12-летнего возраста проводятся 1 вакцинация и 3 ревакцинации). Иммунизация проводится адсорбированным дифтерийным анатоксином. С 1958 в СССР прививки осуществляются ассоциированным препаратом (АКДС), в к-рый, кроме дифтерийного анатоксина, входят коклюшная вакцина и столбнячный анатоксин. В связи с активной иммунизацией заболеваемость Д. в СССР резко снизилась (с 1959 по 1966 - в 30,7 раза).

Как можно раньше выявляется и изолируется (госпитализируется) заболевший. После госпитализации больного проводится дезинфекция помещения. Все лица, находившиеся в контакте с больным, подлежат многократному бактерио-логич. обследованию и мед. наблюдению в течение 7 дней. Детям, контактировавшим с больным, на этот срок запрещено посещать детские учреждения (ясли, детсады, школы и др.); у них проверяют состояние специфич. иммунитета - реакция Шика (по им. австр. врача Б. Шика).

Лит.: Молчанов В. И., Дифтерия, 2 изд., М., 1960; Титова А.И.иФлек-сер С. Я., Дифтерия, М., 1967.

Р. Н. Рылеева, М. Я. Студеникин.

ДИФТЕРОИДЫ, бактерии, обладающие сходством с дифтерийными палочками -возбудителями дифтерии. Различают па-радифтерийные и ложнодифтерийные Д., имеющие вид коротких, толстых, неподвижных палочек. Парадифтерийные Д., в отличие от ложнодифтерийных, имеют 1-2 маленьких полярных зерна и не разлагают мочевину.

ДИФТОНГ (от греч. diphthongos -двугласный), сочетание двух гласных (слогового и неслогового) в одном слоге. Напр., франц. [oi]. Различаются: Д. восходящий, у к-рого слогообразующим элементом является второй из составляющих его гласных. Напр., франц. [ie], [ui]; Д. нисходящий, у к-рого слогообразующим является первый из составляющих его гласных. Напр., англ, [ai], Гаи].

ДИФФАМАЦИЯ (от лат. diffamo - порочу), в уголовном праве нек-рых бурж. гос-в распространение порочащих сведений. В отличие от клеветы, при Д. порочащие сведения могут и не носить клеветнич. характера.

ДИФФЕРДАНЖ (Differdange), город в Люксембурге, в округе Люксембург, близ границы с Францией. 17,8 тыс. жит. (1970). Центр металлургич. пром-сти; произ-во хим. удобрений. В р-не Д.-добыча жел. руды (продолжение Лота-рингского железорудного бассейна).

ДИФФЕРЕНТ СУДНА (от лат. dif-ferens, род. падеж differentis - разница), наклон судна в продольной плоскости. Д. с. характеризует посадку судна и измеряется разностью его осадок (углублений) кормой и носом. Если разность равна нулю, говорят, что судно "сидит на ровный киль", при положит, разности-судно сидит с дифферентом на корму, при отрицат. - с дифферентом на нос. Д. с. влияет на поворотливость судна, условия работы гребного винта, проходимость во льдах и пр. Д.с. бывает статический и ходовой, возникающий при больших скоростях движения. Д. с. обычно регулируют приёмом или удалением водяного-балласта.

ДИФФЕРЕНЦИАЛ (от лат. differentia - разность, различие) в математике, главная линейная часть приращения функции. Если функция y=f(x) одного переменного х имеет при х=х0 производную, то приращение
[823-26.jpg]

в этом разложении и называется дифференциалом функции f(x) в точке х0. Из этой формулы видно, что дифференциал dy линейно зависит от приращения независимого переменного Дх, а равенство Дy = dy +R показывает, в каком смысле Д. dy является главной частью приращения Дy.
Подробнее о Д. функций одного и нескольких переменных см. Дифференциальное исчисление.

Обобщение понятия дифференциала. Обобщение понятия Д. на вектор-функции, начало к-рому положили в начале 20 в. франц. математики Р. Гато и М. Фреше, позволяет лучше выяснить смысл понятия "дифференциал" для функций нескольких переменных, а в применении к функционалам приводит к понятию вариации, лежащему в основе вариационного исчисления.

Важную роль в этом обобщении играет понятие линейной функции (линейного отображения). Функция L(x) векторного аргумента х наз. л и-н е и н о и, если она непрерывна и удовлетворяет равенству
[823-27.jpg]

т. е. зависит только от векторного приращения h, и притом линейно, функция f(x) наз. дифференцируемой при значении аргумента .г, если её приращение Дf = f(x + h) - f(x), рассматриваемое как функция от h, имеет главную линейную часть L(h), т. е. выражается в виде Дf = L(h) + R(h),
где остаток R(h) при h->0 бесконечно мал по сравнению с h. Главная линейная часть L(h) приращения Дf и наз. дифференциалом df функции f в точке х. При этом в зависимости от того, в каком смысле понимается бесконечная малость R(h) по сравнению с h, различают слабый дифференциал, или дифференциал Гато, и сильный дифференциал, или дифференциал фреше. Если существует сильный Д., то существует и слабый Д., равный сильному Д. Слабый Д. может существовать и тогда, когда сильный не существует.

В случае f(x) = x из общего определения следует, что df = h, т. е. можно приращение h считать Д. аргумента х и обозначать dx.

Если сделать теперь переменной точку х, в к-рой определяется Д. df, то он будет функцией двух переменных: df(x;h)

Далее, считая h = h1 постоянным, можно найти Д. от дифференциала df(x; h1) как главную часть приращения df(x+h2;h1)-df(x;h1), где h2 - нек-рое второе, не связанное с h1приращение х. Получаемый таким образом второй дифференциал d2f=d2f(x; h1,h2) является функцией трёх векторных аргументов х, h1 и h2, линейной по каждому из двух последних аргументов. Если d2f непрерывно зависит от х, то он симметричен относительно h1 и h2: d*f(x; h1, h2) = d2f(x; h2, h1). Аналогично определяется дифференциал dnf=dnf(x; h1,...,hn) любого порядка п. В вариационном исчислении сам векторный аргумент х является функцией x(t), а дифференциалы df и d2f функционала f[x(t)] наз. его первой и второй вариациями и обозначаются бf и б2f.

Всюду выше речь шла об обобщении понятия Д. на числовые функции векторного аргумента. Существует обобщение понятия Д. и на случай вектор-функций, принимающих значения в банаховых пространствах.

Лит.: Ильин В. А., Позняк Э. Г., Основы математического анализа, 2 изд., М., 1967; Колмогоров А. Н., Фомин С. В., Элементы теории функций и функционального анализа, 2 изд., М., 1968; Фихтенгольц Г. М., Курс дифференциального и интегрального исчисления, 7 изд., т. 1, М., 1969; Кудрявцев Л. Д., Математический анализ, т. 1, М., 1970; Рудин У., Основы математического анализа, пер. с англ., М., 1966; Дьедонне Ж., Основы современного анализа, пер. с англ., М., 1964.

А. Н. Колмогоров.

ДИФФЕРЕНЦИАЛ, дифференциальный механизм в приводе ведущих колёс автомобиля, трактора или др. транспортных машин. Д. обеспечивает вращение ведущих колёс с разными относит, скоростями при прохождении кривых участков пути.

ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНАЯ ГЕОМЕТРИЯ, раздел геометрии, в к-ром гео-метрич. образы изучаются методами ма-тематич. анализа. Главными объектами Д. г. являются произвольные достаточно гладкие кривые (линии) и поверхности евклидова пространства, а также семейства линий и поверхностей. Обычно в Д. г. исследуются локальные свойства геометрич. образов, к-рые присущи сколь угодно малой их части. Рассматриваются также и свойства геометрич. образов в целом (напр., свойства замкнутых выпуклых поверхностей).

Геометрические объекты, изучаемые в Д. г., обычно подчинены нек-рым требованиям гладкости. Как правило, эти требования выражаются в том, что функции, задающие указанные объекты, не менее двух раз непрерывно дифференцируемы.

Сущность методов Д. г., применяемых для выяснения локальных свойств геометрич. объектов, проще всего уяснить на примере локального исследования формы кривых.

В каждой точке М достаточно гладкой кривой L можно построить касательную прямую МТ и соприкасающуюся плоскость л (рис. 1). При этом касательная МТ является пределом секущей MN при неограниченном приближении точки N к М по кривой L, а соприкасающаяся плоскость есть предел переменной плоскости, проходящей через касательную МТ и точку N при приближении N к М по L. Касательную МТ можно рассматривать также как прямую, наиболее тесно прилегающую к L вблизи точки М. Соприкасающаяся же плоскость представляет собой плоскость, наиболее тесно прилегающую к L вблизи М.

[823-28.jpg]

Рис. 1.

Для геометрич. характеристики искривлённости кривой L вблизи данной точки М рассматривается соприкасающаяся окружность, представляющая собой окружность, проходящую через М и наиболее тесно прилегающую к L, вблизи М. Это свойство выражается в том, что если учитывать величины только 1-го и 2-го порядка малости по сравнению с длиной дуги MN, то участок кривой L вблизи М можно считать дугой соприкасающейся окружности. Соприкасающаяся окружность касается L в точке М и расположена в соприкасающейся плоскости. Её центр наз. центром кривизны кривой L в точке М, а радиус - радиусом кривизны L в М.

Для численной характеристики искривлённости L в точке М используется кривизна k кривой, равная обратной величине радиуса R соприкасающейся окружности: k=1/R. Кривизну k можно рассматривать и как меру отклонения L от касательной МТ (рис. 1):
[823-29.jpg]

[823-30.jpg]

Рис. 2.

Мерой отклонения кривой от соприкасающейся плоскости я в точке М служит т. н. кручение а, к-рое определяется как предел отношения угла (3 между соприкасающимися плоскостями в точках М и N к длине Дs дуги MN при Дs->О:
[823-31.jpg]

При этом угол р берётся со знаком +, если для наблюдателя в М вращение соприкасающейся плоскости в N при приближении N к М происходит против часовой стрелки, и со знаком - в противном случае. Кручение кривой можно рассматривать как скорость изменения (вращения) соприкасающейся плоскости. В частности, для плоской кривой соприкасающаяся плоскость во всех точках совпадает с плоскостью кривой и поэтому кручение такой кривой во всех точках равно нулю. Кривизна k и кручение а достаточно гладкой кривой L, определены в каждой её точке и представляют собой функции параметра, определяющего точки этой кривой. Для вычисления k и а используется к.-л. способ задания кривой. Чаще всего кривая L задаётся па-раметрич. уравнениями в прямоугольных координатах: x = ф (t), y= w(t) , z = х(t)- (1) При изменении параметра t точка М с координатами (x, у, z) описывает кривую L. Иными словами, параметрич. уравнения кривой связаны с представлением о кривой как траектории движущейся точки. Правые части (1) могут рассматриваться и как проекции на оси координат радиуса-вектора r переменной точки М кривой L. Вектор г' с координатами {ф'(0, w'(t), Х'(t)} наз. производной вектор-функции r(t) и направлен по касательной к L в точке М.

Кривизна и кручение вычисляются по формулам
[823-32.jpg]

в к-рых [r', r"] - векторное, а r'r"r'" -смешанное произведение (см. Векторное исчисление).

С каждой точкой М кривой L связаны три единичных вектора: касательной (t), главной нормали (n) и бинормали (b) (рис. 1). При этом вектор (га) расположен в соприкасающейся плоскости и направлен от точки М к центру кривизны L в М, а вектор Ь ортогонален t и и и направлен так, что векторы г, н и b образуют правую тройку. Указанная тройка векторов образует т. н. основной, или сопровождающий, триедр кривой L. Плоскости векторов (n,b) и (t, b) наз. соответственно нормальной и спрямляющей плоскостями L в М.

Формулы для производных векторов t, п, b по длине s дуги L наз. формулами френе. Они играют фундаментальную роль как в теории кривых, так и в приложениях этой теории (в механике, теоретич. физике и т. д.). Эти формулы имеют вид
[823-33.jpg]

Если кривизна и кручение не равны нулю в точке М, то можно сделать определённые заключения о форме L вблизи М: проекции L на соприкасающуюся и нормальную плоскости в М имеют вид, изображённый соответственно на рис. 3 и 4. Форма проекции на спрямляющую плоскость зависит от знака кручения. На рис. 5 и 6 изображены проекции L на спрямляющую плоскость для o>0 и o <0. Кривизна и кручение вполне определяют кривую. Именно, если между точками двух кривых установлено соответствие так, что соответствующие дуги этих кривых имеют одинаковую длину и в соответствующих точках кривые имеют равные кривизны и равные кручения, то эти кривые могут быть совмещены посредством движения.
[823-34.jpg]

По аналогии с кривыми исследуется локальное строение формы поверхностей. В каждой точке М достаточно гладкой поверхности S можно построить касательную плоскость у и однозначно определённый соприкасающийся параболоид л (рис. 7), к-рый может выродиться в параболич. цилиндр или плоскость. При этом касательную плоскость можно рассматривать как плоскость, наиболее тесно прилегающую к S вблизи М.

[823-35.jpg]

Рис. 7

Соприкасающийся же параболоид характеризуется тем, что в окрестности точки М он совпадает с S с точностью до величин третьего порядка малости по сравнению с размерами этой окрестности. С помощью соприкасающихся параболоидов точки М поверхностей классифицируются следующим образом: эллиптическая (рис. 8) (соприкасающийся параболоид -эллиптический), гиперболическая (рис. 9) (соприкасающийся параболоид - гиперболический), параболическая (рис. 10) (соприкасающийся параболоид - параболический цилиндр), точка уплощения (рис. 11) (соприкасающийся параболоид - плоскость).

[823-36.jpg]

Обычно для исследования строения поверхности используются т. н. первая и вторая основные квадратичные формы поверхности.

Пусть поверхность S определена пара-метрич. уравнениями: x= ф(u, v), y = w(u,v), z = x(u,v). (2) При фиксированном значении v уравнения (2) определяют на S линию, называемую координатной линией и. Аналогично определяется линия v. Координатные линии и и v образуют на S параметрическую сеть (если, напр., сферу радиуса 1 задать па-раметрич. ур-ниями х = cos и cos v, у =cos и sin v, z = sin u, то параметрич. сетью линий и и v будут меридианы и параллели этой сферы). Величины и и v наз. также внутренними координатами, т. к. точка на поверхности есть точка пересечения проходящих через неё координатных линий, т. е. может быть найдена путём построений на поверхности без обращения к объемлющему пространству.

Радиус-вектор г произвольной точки М на S определяется уравнениями (2) как функция и и V. Частные производные ru и rv этой функции суть векторы, касательные соответственно к линиям и и и. Эти векторы в точке М лежат в касательной плоскости к S в М. Векторное произведение [ru,rv] определяет нормаль к S в точке М.

Пусть s - длина дуги линии L на S и пусть и = f(t), v = g(t) - параметрич. ур-ния во внутр. координатах. Тогда, вдоль Lr и s будут функциями от г, причём дифференциал s определяется равенством ds2 = dx2 + dy2 + dz2, правая часть к-рого есть скалярный квадрат вектора dr= rudu + rvdv, т. е. ds2 = dr2. Поэтому ds2= rudu2 + 2ru rv dudv + r2v,dv С помощью обозначений r2u== Е, rurv= F, г2v = G выражение для ds2 можно записать в виде ds2 = Edu2 + 2Fdudv + Gdv2. (3) Правая часть соотношения (3) наз. первой основной квадратичной формой поверхности S. С помощью этой формы можно измерять длины дуг на поверхности путём интегрирования выражения

[823-37.jpg]

вдоль рассматриваемой дуги. Поэтому форма (3) наз. также метрической формой поверхности. Первая форма определяет также внутреннюю геометрию поверхности, т. е. совокупность фактов, к-рые могут быть получены путём измерений на поверхности, без обращения к объемлющему пространству. Внутр. геометрия поверхности не меняется при её изгибании - деформации поверхности как абсолютно гибкой и нерастяжимой п